掃描穿遂顯微鏡可以量測「金屬固體」(良導體)表面使用硅晶圓或奈米碳管(CNT)製作成針尖小于100nm(奈米)的奈米尖端，當奈米尖端由「金屬固體」表面掃過時，尖端接觸「金屬」表面會導電，利用導電的大小來控尖端隨物體表面高低起伏而上下移動，可以量測「金屬固體」(良導體)表面。將尖端上下移動情形記錄下來，并且利用電腦模擬物體表面三維高低起伏而繪出相對應的三維圖形。掃描穿遂顯微鏡(STM)的解析度與奈米尖端的尺寸有關，可以用來觀察大約1nm(奈米)的結構,體視顯微鏡，因此可以看到由電腦模擬的原子影像。
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