不同晶體碎屑與浸油折射率樣品分析顯微鏡
用斜照法無(wú)需用高倍物鏡，在低倍鏡下視域范圍較廣，可同時(shí)比
較多粒碎屑甚至不同晶體碎屑與浸油折射率的高低，但斜照法不能精
確測(cè)定晶體的折射率，只有在二者折射率相差較大時(shí)可較快地判別兩
者折射率的相對(duì)大小。
浸油的相對(duì)折射率
直照法又稱(chēng)為貝克線法。在單偏光下兩介質(zhì)交界處將形成貝克線
，根據(jù)升降顯微鏡鏡筒時(shí)貝克線的移動(dòng)情況即可判別兩介質(zhì)相對(duì)折射
率高低，故稱(chēng)直照法。
多維缺陷
堆積缺陷、晶界和相界屬于多維晶格缺陷。作為晶體堆積紛亂的堆
積缺陷，顯而易見(jiàn)，一般是與層錯(cuò)共存的。當(dāng)然，堆積缺陷妨礙了位
錯(cuò)的移動(dòng)。SiC特別會(huì)在大范圍內(nèi)出現(xiàn)堆積缺陷，并導(dǎo)致形成多種聚合
形式。晶界分為小角度晶界和大角度晶界。前者就是由規(guī)律性的階梯
位錯(cuò)和螺旋位錯(cuò)組成的平
色散法的原理
色散法全稱(chēng)為貝克線色散法，是直照法的延伸和發(fā)展。在晶體與
浸油的折射率相差小于o．01并用白光照射時(shí)，兩者交界處的貝克線由
于固態(tài)物質(zhì)和液態(tài)物質(zhì)具有不同色散率將色散，分為互相平行的天藍(lán)
色帶和橙黃色帶(這兩種顏色是貝克線色散的敏感色)。一般固態(tài)物質(zhì)
色散率比液態(tài)物質(zhì)小，因此晶體的色散率曲線較平緩，浸油的色散率
曲線就比較陡，當(dāng)二者對(duì)某單色光折射率相等時(shí)，兩條曲線就相交于
折射率相等處。晶體折射率通常是以黃色光折射率為準(zhǔn)的，有下列三
種情況。
