掃描穿遂顯微鏡(STM：Scanning Tunneling Microscopy)

使用矽晶圓或納米碳管(CNT)制作成針尖小于100nm(納米)的納米尖端，當(dāng)納米尖端由“金屬固體”表面掃過(guò)時(shí)，
尖端接觸“金屬”表面會(huì)導(dǎo)電，利用導(dǎo)電的大小來(lái)控尖端隨物體表面高低起伏而上下移動(dòng)，可以量測(cè)“金屬固體”(良導(dǎo)體)表面。

將尖端上下移動(dòng)情形記錄下來(lái)，并且利用電腦模擬物體表面三維高低起伏而繪出相對(duì)應(yīng)的三維圖形。

掃描穿遂顯微鏡(STM)的解析度與納米尖端的尺寸有關(guān)，可以用來(lái)觀察大約1nm(納米)的結(jié)構(gòu)，因此可以看到由電腦模擬的原子影像。

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